英飞凌推出ASIL-B等级并具唤醒功能的第三代3D霍尔传感器TLE493D-x3系列

　　近日，英飞凌的磁传感器门类再添新兵，第三代3D霍尔传感器TLE493D-x3系列在经历两代产品的迭代之后应运而生。相较于前一代产品，主要有如下变化：

　　明确符合功能安全ASIL-B等级要求，方便客户构建ASIL-B以上等级的系统；

　　增加SPI接口的型号TLE493D-P3I8，该型号工作时候的温度可达150℃。

　　低功耗模式：芯片内部定时触发测量,可配置为4种定时采样频率16、31、125、1000Hz

　　睡眠功能指的是芯片被设置为低功耗模式时，如果芯片感应的磁场低于所设置阈值，则芯片处于休眠状态，以所设置频率定时内部进行采样并不再响应来自MCU的通讯指令。

　　唤醒功能指的是在设定磁场阈值并使能该唤醒功能后，一旦作用于芯片的磁场超过阈值，INTN管脚会输出低电平触发脉冲，可用于唤醒SBC或者MCU。X,Y,Z任意一个轴的阈值被超过就会触发出脉冲。如果各轴的阈值保持在复位时的初始值不进行修改，则表明该轴的睡眠唤醒功能没有使能；如果所有轴的的阈值均保持复位初始值，则芯片会从始至终保持在唤醒状态，持续向外发出脉冲。

　　除了支持上面提到的三种采样值组合外，芯片还提供三种自检功能使用户得到满足的诊断要求：

　　各轴霍尔偏置电压检测及供电电源检测。这一功能主要是检验施加在hall盘上的偏置电压是否在规程内，数据手册中不但规定了初始值的合规范围，同时规定了全生命周期的漂移范围。

　　修调功能及内部电源检测。这一功能主要是检验hall和ADC的零点的旋转修调功能和片内稳压电路是否仍然正常工作。同样地，数据手册同时规定了其初始值和漂移值的范围。

　　SAT检测。以上两种自检功能主要侧重于对芯片内模拟电路的自检，而SAT检验测试主要是对片内数字电路的测试，通过设置相关控制位，检验芯片的输出值是否与参考值相同。

　　数据手册提供了三阶温度补偿算法，用户都能够根据如下的公式通过获得的Bx,By,Bz及温度初始值计算得到补偿值，从而进一步消除温漂对精度带来的影响。

　　TLE493Dx3进一步补充了现有的英飞凌磁传感器产品序列，最大限度地考虑了用户在功能安全方面的需求，是顶柱模块拨杆位置，换挡位置和摇杆位置检测等应用场景的最佳选择。英飞凌通过持续的技术迭代不断为市场和用户更好的提供最具性价比的产品。